| 国家/地区 | Germany（3） |
| 关键词 |
SCANNING TUNNELING POTENTIOMETRY（6）
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| 出版物 | |
| 出版时间 | 2018（2） |
| 机构 | |
| 作者 |
WENDEROTH M（3）
PIERZ K（2）
SCHUMACHER H.（2）
SINTERHAUF A（2）
TRAEGER GA（2） WILLKE P（2） |
ACS APPLIED ELECTRONIC MATERIALS
MOGI H, BAMBA T, MURAKAMI M, KAWASHIMA Y, YOSHIMURA M, TANINAKA A, YOSHIDA S, TAKEUCHI O, OIGAWA H, SHIGEKAWA H
2D MATERIALS
ZHOU XD, JI SH, CHOCKALINGAM SP, HANNON JB, TROMP RM, HEINZ TF, PASUPATHY AN, ROSS FM
ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES
PAKDEHI DM, APROJANZ J, SINTERHAUF A, PIERZ K, KRUSKOPF M, WILLKE P, BARINGHAUS J, STOCKMANN JP, TRAEGER GA, HOHLS F, TEGENKAMP C, WENDEROTH M, AHLERS FJ, SCHUMACHER HW
NANOTECHNOLOGY
BEVAN KH
ANNALEN DER PHYSIK
WILLKE P, SCHNEIDER MA, WENDEROTH M
CARBON
SINTERHAUF A, TRAEGER GA, MOMENI D, PIERZ K, SCHUMACHER HW, WENDEROTH M