国家/地区 Japan（4）
关键词 SIC（4）
出版物
出版时间 2011（2）
机构 OSAKA UNIV（2）
作者 ARIMA K（2） DAIMON H（2） ENDO K（2） HATTORI AN（2）
HATTORI K（2） MURATA J（2） OKAMOTO T（2） SADAKUNI S（2）
SANO Y（2） YAMAUCHI K（2）

Determination of non-uniform graphene thickness on SiC (0001) by X-ray diffraction

APPLIED SURFACE SCIENCE

RUAMMAITREE A, NAKAHARA H, AKIMOTO K, SODA K, SAITO Y

Structure and Magnetic Properties of Mono- and Bi-Layer Graphene Films on Ultraprecision Figured 4H-SiC(0001) Surfaces

JOURNAL OF NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY

HATTORI AN, OKAMOTO T, SADAKUNI S, MURATA J, OI H, ARIMA K, SANO Y, HATTORI K, DAIMON H, ENDO K, YAMAUCHI K

Formation of wide and atomically flat graphene layers on ultraprecision-figured 4H-SiC(0001) surfaces

SURFACE SCIENCE

HATTORI AN, OKAMOTO T, SADAKUNI S, MURATA J, ARIMA K, SANO Y, HATTORI K, DAIMON H, ENDO K, YAMAUCHI K

High-Quality Few-Layer Graphene on Single-Crystalline SiC thin Film Grown on Affordable Wafer for Device Applications

NANOMATERIALS

ENDOH N, AKIYAMA S, TASHIMA K, SUWA K, KAMOGAWA T, KOHAMA R, FUNAKUBO K, KONISHI S, MOGI H, KAWAHARA M, KAWAI M, KUBOTA Y, OHKOCHI T, KOTSUGI M, HORIBA K, KUMIGASHIRA H, SUEMITSU M, WATANABE I, FUKIDOME H