| 国家/地区 | Sweden（2） |
| 关键词 |
STATISTIC（5）
|
| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 | 2017（3） |
| 机构 | KTH ROYAL IN.（2） |
| 作者 |
KATARIA S（2）
LEMME MC（2）
MALM BG（2）
OSTLING M（2）
SMITH AD（2） WAGNER S（2） |
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
SEMICONDUCTOR SCIENCE TECHNOLOGY
FERRY DK
PROCEEDINGS OF THE NATIONAL ACADEMY OF SCIENCES OF THE UNITED STATES OF AMERICA
EVANGELI C, TEWARI S, KRUIP JM, BIAN XY, SWETT JL, CULLY J, THOMAS J, BRIGGS GAD, MOL JA
POLYMERS
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