国家/地区 | |
关键词 |
THERMAL CONTACT RESISTANCE(2)![]() |
出版物 | |
出版时间 |
2015(2)![]() |
机构 | |
作者 |
MICROELECTRONICS RELIABILITY
CUI TF, LI Q, XUAN YM, ZHANG P
JOURNAL OF NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY
CHUNG J, HWANG G, KIM H, YANG W, KWON O