| 国家/地区 |
China（3）
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| 关键词 |
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY（3）
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| 出版物 | IEEE ELECTRON DEVIC.（2） |
| 出版时间 |
2022（3）
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| 机构 | |
| 作者 | CHEN XP（2） YU JB（2） YUAN M（2） |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
YUAN M, YU JB, CHEN XP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
YUAN M, LUO F, RAO YF, YING W, YU JB, LI H, CHEN XP
SURFACE INTERFACE ANALYSIS
ZHANG K, BAN CG, YUAN Y, HUANG L, GAN Y