国家/地区 Germany（2）
关键词 KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY（2）
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机构
作者 NEUMAIER D（2）

Low Resistive Edge Contacts to CVD-Grown Graphene Using a CMOS Compatible Metal

ANNALEN DER PHYSIK

SHAYGAN M, OTTO M, SAGADE AA, CHAVARIN CA, BACHER G, MERTIN W, NEUMAIER D

Evidence for Local Spots of Viscous Electron Flow in Graphene at Moderate Mobility

NANO LETTERS

SAMADDAR S, STRASDAS J, JANSSEN K, JUST S, JOHNSEN T, WANG ZX, UZLU B, LI S, NEUMAIER D, LIEBMANN M, MORGENSTERN M