国家/地区 Germany（2）
关键词 KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY（2）
出版物 ANNALEN DER PHYSIK（2）
出版时间 2017（2）
机构
作者

Low Resistive Edge Contacts to CVD-Grown Graphene Using a CMOS Compatible Metal

ANNALEN DER PHYSIK

SHAYGAN M, OTTO M, SAGADE AA, CHAVARIN CA, BACHER G, MERTIN W, NEUMAIER D

Electronic Transport Properties of 1D-Defects in Graphene and Other 2D-Systems

ANNALEN DER PHYSIK

WILLKE P, SCHNEIDER MA, WENDEROTH M