国家/地区 Ireland（2）
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机构 UNIV DUBLIN TRINITY COLL（2）
作者 KUMAR S（2）

Helium ion microscopy of graphene: beam damage, image quality and edge contrast

NANOTECHNOLOGY

FOX D, ZHOU YB, O NEILL A, KUMAR S, WANG JJ, COLEMAN JN, DUESBERG GS, DONEGAN JF, ZHANG HZ

Cell Proliferation Tracking Using Graphene Sensor Arrays

JOURNAL OF SENSORS

DALY R, KUMAR S, LUKACS G, LEE K, WEIDLICH A, HEGNER M, DUESBERG GS