国家/地区 Italy(2)
关键词 SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(2)
出版物
出版时间
机构 CNR(2)
作者 HEUN S(2)

ADVANCED MATERIALS INTERFACES

SALIMIAN S, XIANG SH, COLONNA S, RONCI F, FOSCA M, ROSSELLA F, BELTRAM F, FLAMMINI R, HEUN S

NANO RESEARCH

MURATA Y, CAVALLUCCI T, TOZZINI V, PAVLICEK N, GROSS L, MEYER G, TAKAMURA M, HIBINO H, BELTRAM F, HEUN S