国家/地区 Korea（2）
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY（2）
出版物
出版时间
机构
作者 KIM T（2）

Scanning Noise Microscopy on Graphene Devices

ACS NANO

SUNG MG, LEE H, HEO K, BYUN KE, KIM T, SEO DH, SEO S, HONG S

van der waals interactions of graphene membranes with a sharp silicon

JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY

SUK JW, KIM T, PINER RD