国家/地区 Korea(2)
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY(2)
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机构
作者 KIM J(2)

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE TECHNOLOGY B

LEE C, KIM BJ, REN F, PEARTON SJ, KIM J

ACS NANO

LEE H, CHO D, SHEKHAR S, KIM J, PARK J, HONG BH, HONG S