国家/地区 Netherlands（2）
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机构 UNIV UTRECHT（2）
作者 VAN HUIS MA（2）

Recognizing nitrogen dopant atoms in graphene using atomic force microscopy

PHYSICAL REVIEW B

VAN DER HEIJDEN NJ, SMITH D, CALOGERO G, KOSTER RS, VANMAEKELBERGH D, VAN HUIS MA, SWART I

Strong Long-Range Relaxations of Structural Defects in Graphene Simulated Using a New Semiempirical Potential

JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C

JAIN SK, BARKEMA GT, MOUSSEAU N, FANG CM, VAN HUIS MA