国家/地区 Poland（2）
关键词 KPFM（2）
出版物
出版时间 2016（2）
机构 WROCLAW UNIV.（2）
作者 GOTSZALK T（2）

Kelvin Probe Force Microscopy investigations of High Strength Metallurgical Graphene transferred on low-density polyethylene

MICROELECTRONIC ENGINEERING

GAJEWSKI K, SZYMANSKI W, NIEDZIELSKI P, GOTSZALK T

Raman Spectroscopy and Kelvin Probe Force Microscopy characteristics of the CVD suspended graphene

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GAJEWSKI K, GONISZEWSKI S, SZUMSKA A, MOCZALA M, KUNICKI P, GALLOP J, KLEIN N, HAO L, GOTSZALK T