国家/地区 Spain（2）
关键词 RESISTANCE（2）
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机构
作者 PACHECOSANCHEZ A（2）

An Extraction Method for Mobility Degradation and Contact Resistance of Graphene Transistors

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

PACHECOSANCHEZ A, MAVREDAKIS N, FEIJOO PC, JIMENEZ D

Bias-Dependent Intrinsic RF Thermal Noise Modeling and Characterization of Single-Layer Graphene FETs

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY TECHNIQUES

MAVREDAKI N, PACHECOSANCHEZ A, SAKALAS P, WEI W, PALLECCHR E, HAPPY H, JIMENEZ D