| 国家/地区 |
Sweden（2）
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| 关键词 |
RF（2）
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| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 | 2017（2） |
| 机构 |
KTH ROYAL INST TECHNOL（2）
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| 作者 |
LEMME MC（2）
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Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M