| 国家/地区 |
Sweden（4）
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| 关键词 |
GRAPHENE（3）
RF（2）
STATISTIC（2）
WAFERSCALE FABRICAT.（2） |
| 出版物 |
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES（4）
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| 出版时间 | 2014（2） 2017（2） |
| 机构 | KTH ROYAL IN.（4） |
| 作者 |
LEMME MC（4）
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
RODRIGUEZ S, SMITH A, VAZIRI S, OSTLING M, LEMME MC, RUSU A
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
RODRIGUEZ S, VAZIRI S, SMITH A, FREGONESE S, OSTLING M, LEMME MC, RUSU A
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M