国家/地区 Usa（2）
关键词
出版物 JOURNAL OF ELECTRON.（2）
出版时间 2009（2）
机构
作者 BOECKL JJ（2）

Thickness Estimation of Epitaxial Graphene on SiC Using Attenuation of Substrate Raman Intensity

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

SHIVARAMAN S, CHANDRASHEKHAR MVS, BOECKL JJ, SPENCER MG

Growth of Graphene-Like Structures on an Oxidized SiC Surface

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

LU WJ, MITCHEL WC, BOECKL JJ, CRENSHAW TR, COLLINS WE, CHANG RPH, FELDMAN LC