| 国家/地区 |
Usa（3）
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| 关键词 |
EPITAXIAL GRAPHENE（3）
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2018（3）
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| 机构 | NIST（2） |
| 作者 |
KRUSKOPF M（3）
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METROLOGIA
KRUSKOPF M, ELMQUIST RE
THIN SOLID FILMS
KRUSKOPF M, PIERZ K, PAKDEHI DM, WUNDRACK S, STOSCH R, BAKIN A, SCHUMACHER HW
MICROELECTRONIC ENGINEERING
RIGOSI AF, LIU CI, WU BY, LEE HY, KRUSKOPF M, YANG YF, HILL HM, HU JN, BITTLE EG, OBRZUT J, WALKER ARH, ELMQUIST RE, NEWELL DB