| 国家/地区 |
Usa（3）
|
| 关键词 | |
| 出版物 | |
| 出版时间 |
2020（3）
|
| 机构 | NIST（2） |
| 作者 |
NEWELL DB（3）
|
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION MEASUREMENT
PAYAGALA SU, RIGOSI AF, PANNA AR, POLLAROLO A, KRUSKOPF M, SCHLAMMINGER S, JARRETT DG, BROWN R, ELMQUIST RE, BROWN D, NEWELL DB
PHYSICA BCONDENSED MATTER
RIGOSI AF, MARZANO M, LEVY A, HILL HM, PATEL DK, KRUSKOPF M, JIN H, ELMQUIST RE, NEWELL DB
AIP ADVANCES
PATEL D, MARZANO M, LIU CI, HILL HM, KRUSKOPF M, JIN H, HU JN, NEWELL DB, LIANG CT, ELMQUIST R, RIGOSI AF