| 国家/地区 |
Usa(2)
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| 关键词 |
CONTACT RESISTANCE(2)
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| 出版物 | |
| 出版时间 | |
| 机构 |
STANFORD UNIV(2)
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| 作者 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
VAZIRI S, CHEN V, CAI LL, JIANG Y, CHEN ME, GRADY RW, ZHENG XL, POP E
ACS NANO
BECERRIL HA, STOLTENBERG RM, TANG ML, ROBERTS ME, LIU ZF, CHEN YS, KIM DH, LEE BL, LEE S, BAO ZA
