| 国家/地区 |
Usa(2)
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| 关键词 |
GRAPHENE(2)
INTERCONNECT(2)
RELIABILITY(2)
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| 出版物 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS(2)
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| 出版时间 | |
| 机构 | STANFORD UNI.(2) |
| 作者 |
WONG HSP(2)
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IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LI L, ZHU ZW, YOON A, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP
