| 国家/地区 |
India(2)
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| 关键词 |
ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM(2)
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| 出版物 | |
| 出版时间 |
2013(2)
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| 机构 | |
| 作者 |
IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY
GOWTHAMI T, GADHEWAL M, RAINA G
MATERIALS CHEMISTRY PHYSICS
ADHIKARI B, BANERJEE A
