国家/地区 Hungary（2）
关键词
出版物 APPLIED SURFACE SCIENCE（2）
出版时间 2014（2）
机构 HUNGARIAN ACAD SCI（2）
作者

Determination of the thickness distribution of a graphene layer grown on a 2 '' SiC wafer by means of Auger electron spectroscopy depth profiling

APPLIED SURFACE SCIENCE

GURBAN S, PECZ B, MENYHARD M, YAKIMOVA R

Dominantly epitaxial growth of graphene on Ni (111) substrate

APPLIED SURFACE SCIENCE

FOGARASSY Z, RUMMELI MH, GORANTLA S, BACHMATIUK A, DOBRIK G, KAMARAS K, BIRO LP, HAVANCSAK K, LABAR JL