国家/地区 Korea(2)
关键词 DEFECT(2)
出版物
出版时间 2016(2)
机构
作者 KIM TS(2)

ACS NANO

YOON T, KIM JH, CHOI JH, JUNG DY, PARK IJ, CHOI SY, CHO NS, LEE JI, KWON YD, CHO S, KIM TS