OPTICAL MATERIALS

DUSZA M, GRANEK F, STREK W

METROLOGY MEASUREMENT SYSTEMS

MLECZKO K, PTAK P, ZAWISLAK Z, SLOMA M, JAKUBOWSKA M, KOLEK A

MATERIALS CHEMISTRY PHYSICS

MAZDZIARZ M, MROZEK A, KUS W, BURCZYNSKI T

NANO RESEARCH

DABROWSKI P, ROGALA M, PASTERNAK I, BARANOWSKI J, STRUPINSKI W, KOPCIUSZYNSKI M, ZDYB R, JALOCHOWSKI M, LUTSYK I, KLUSEK Z

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

JUDEK J, ZDROJEK M, SOBIESKI J, PRZEWLOKA A, PIOTROWSKI JK

ENVIRONMENTAL SCIENCE POLLUTION RESEARCH

JAWORSKI S, HINZMANN M, SAWOSZ E, GRODZIK M, KUTWIN M, WIERZBICKI M, STROJNY B, VADALASETTY KP, LIPINSKA L, CHWALIBOG A

NUCLEAR INSTRUMENTS METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION BBEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS ATOMS

GAWLIK G, CIEPIELEWSKI P, JAGIELSKI J, BARANOWSKI J

CELLULOSE

KOWALCZYK D, FORTUNIAK W, MIZERSKA U, KAMINSKA I, MAKOWSKI T, BRZEZINSKI S, PIORKOWSKA E

2D MATERIALS

DYRDAL A, BARNAS J

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING

KOCZOROWSKI W, KUSWIK P, PRZYCHODNIA M, WIESNER K, ELAHMAR S, SZYBOWICZ M, NOWICKI M, STRUPINSKI W, CZAJKA R