| 国家/地区 |
Sweden（2）
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| 关键词 |
STATISTIC（2）
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| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2017（2）
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| 机构 | KTH ROYAL IN.（2） |
| 作者 |
KATARIA S（2）
LEMME MC（2）
MALM BG（2）
OSTLING M（2）
SMITH AD（2） WAGNER S（2） |
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M