| 国家/地区 |
Sweden（2）
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| 关键词 |
WAFERSCALE FABRICATION（2）
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| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2017（2）
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| 机构 | KTH ROYAL IN.（2） |
| 作者 |
MALM BG（2）
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Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M