国家/地区 China（2）
关键词 DEFECT（2）
出版物
出版时间
机构 CHINESE ACAD SCI（2）
作者 ZHANG YH（2）

Crack-and-Fold Style Defects in CVD Graphene on Raw Cu Foils

JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS

SUI YP, ZHANG YH, CHEN ZY, LIANG YJ, LI J, HU SK, KANG H, YU GH

Effect of Cu substrate roughness on growth of graphene domains at atmospheric pressure

MATERIALS LETTERS

WANG B, ZHANG HR, ZHANG YH, CHEN ZY, JIN Z, LIU XY, HU LZ, YU GH