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| 关键词 |
CHARGE TRAPPING MEMORY（2）
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| 出版物 | |
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| 机构 |
HEBEI UNIV（2）
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| 作者 |
JIA XL（2）
YAN XB（2）
ZHAO JH（2）
ZHOU ZY（2）
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MATERIALS RESEARCH EXPRESS
JIA XL, HONG W, LI XY, WANG JJ, TAO Y, ZHOU ZY, ZHAO JH, CHAO L, RON DL, YAN XB
IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
WANG H, YAN XB, JIA XL, ZHANG ZC, HO CH, LU C, ZHANG YY, YANG T, ZHAO JH, ZHOU ZY, ZHAO ML, REN DL