国家/地区 Sweden（2）
关键词 RF（2）
出版物 IEEE TRANSACTIONS O.（2）
出版时间 2017（2）
机构 KTH ROYAL INST TECHNOL（2）
作者 SMITH AD（2）

Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M

Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene Field-Effect Transistors-Part II: Analysis of Device Properties

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M