| 国家/地区 | Sweden（2） |
| 关键词 |
GRAPHENE（2）
RF（2）
STATISTIC（2）
WAFERSCALE FABRICAT.（2） |
| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2017（3）
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| 机构 |
KTH ROYAL INST TECHNOL（3）
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| 作者 |
LEMME MC（3）
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Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
RSC ADVANCES
SMITH AD, ELGAMMAL K, FAN XG, LEMME MC, DELIN A, RASANDER M, BERGQVIST L, SCHRODER S, FISCHER AC, NIKLAUS F, OSTLING M