国家/地区 China（2）
关键词 GRAPHENE（2）
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机构 NATL INST METROL（2）
作者

Histogram method for reliable thickness measurements of graphene films using atomic force microscopy (AFM)

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE TECHNOLOGY

YAO YX, REN LL, GAO ST, LI S

Facile preparation of mesoporous carbon-silica-coated graphene for the selective enrichment of endogenous peptides

TALANTA

ZHANG QQ, ZHANG QH, XIONG ZC, WAN H, CHEN XT, LI HM, ZOU HF