国家/地区 England（2）
关键词 KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY KPFM（2）
出版物
出版时间 2013（2）
机构 NATL PHYS LAB（2）
作者 PANCHAL V（2）

Magnetic Scanning Probe Calibration Using Graphene Hall Sensor

IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS

PANCHAL V, IGLESIASFREIRE O, LARTSEV A, YAKIMOVA R, ASENJO A, KAZAKOVA O

Epitaxial Graphene and Graphene-Based Devices Studied by Electrical Scanning Probe Microscopy

CRYSTALS

KAZAKOVA O, PANCHAL V, BURNETT TL