国家/地区 China（2）
关键词 DEFECT（2）
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机构 SOOCHOW UNIV（2）
作者 XU Y（2）

Origin of microstructural defects in single-crystalline films van der Waals epitaxy on graphene

JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH

LIU Y, XU Y, CAO B, LI ZY, ZHAO E, YANG S, WANG CH, WANG JF, XU K

Raman spectra investigation of the defects of chemical vapor deposited multilayer graphene and modified by oxygen plasma treatment

SUPERLATTICES MICROSTRUCTURES

LI ZY, XU Y, CAO B, QI L, HE SY, WANG CH, ZHANG JC, WANG JF, XU K