国家/地区 Usa(2)
关键词 CONTACT RESISTANCE(2)
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机构 STANFORD UNIV(2)
作者

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

VAZIRI S, CHEN V, CAI LL, JIANG Y, CHEN ME, GRADY RW, ZHENG XL, POP E

ACS NANO

BECERRIL HA, STOLTENBERG RM, TANG ML, ROBERTS ME, LIU ZF, CHEN YS, KIM DH, LEE BL, LEE S, BAO ZA