国家/地区 | Usa(2) |
关键词 | CONTACT RESISTANCE(2) |
出版物 | |
出版时间 | |
机构 | STANFORD UNIV(2) |
作者 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
VAZIRI S, CHEN V, CAI LL, JIANG Y, CHEN ME, GRADY RW, ZHENG XL, POP E
ACS NANO
BECERRIL HA, STOLTENBERG RM, TANG ML, ROBERTS ME, LIU ZF, CHEN YS, KIM DH, LEE BL, LEE S, BAO ZA