| 国家/地区 | Usa（3） |
| 关键词 |
GRAPHENE（3）
INTERCONNECT（2）
RELIABILITY（2）
|
| 出版物 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS（3）
|
| 出版时间 | |
| 机构 |
STANFORD UNIV（3）
|
| 作者 | WONG HSP（2） |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
VAZIRI S, CHEN V, CAI LL, JIANG Y, CHEN ME, GRADY RW, ZHENG XL, POP E
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LI L, ZHU ZW, YOON A, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP