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关键词 SCANNING TUNNELING MICROSCOPY(2)
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机构 UNIV KONSTANZ(2)
作者 VOLOSHINA E(2)

SMALL

SIMON S, VOLOSHINA E, TESCH J, FORSCHNER F, ENENKEL V, HERBIG C, KNISPEL T, TRIES A, KROGER J, DEDKOV Y, FONIN M

ACS NANO

LEICHT P, ZIELKE L, BOUVRON S, MORONI R, VOLOSHINA E, HAMMERSCHMIDT L, DEDKOV YS, FONIN M