| 国家/地区 | Usa（2） |
| 关键词 |
RELIABILITY（2）
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| 出版物 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS（2）
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| 出版时间 | |
| 机构 |
STANFORD UNIV（2）
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| 作者 | WONG HSP（2） |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LI L, ZHU ZW, YOON A, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP