| 国家/地区 | Germany（7） Sweden（2） |
| 关键词 |
GRAPHENE（3）
RF（2）
STATISTIC（2）
WAFERSCALE FABRICAT.（2） |
| 出版物 | IEEE TRANSACTIONS O.（2） |
| 出版时间 |
2017（10）
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| 机构 | UNIV SIEGEN（4） KTH ROYAL IN.（3） RHEIN WESTFA.（2） |
| 作者 |
LEMME MC（10）
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IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
PANDEY H, KATARIA S, GAHOI A, LEMME MC
SENSORS
YOKARIBAS V, WAGNER S, SCHNEIDER DS, FRIEBERTSHAUSER P, LEMME MC, FRITZEN CP
ANNALEN DER PHYSIK
PANDEY H, AGUIRREMORALES JD, KATARIA S, FREGONESE S, PASSI V, IANNAZZO M, ZIMMER T, ALARCON E, LEMME MC
Wafer-Scale Statistical Analysis of Graphene FETs-Part I: Wafer-Scale Fabrication and Yield Analysis
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
SMITH AD, WAGNER S, KATARIA S, MALM BG, LEMME MC, OSTLING M
NANOSCALE
SCHNEIDER DS, BABLICH A, LEMME MC
ACS PHOTONICS
RIAZIMEHR S, KATARIA S, BORNEMANN R, BOLIVAR PH, RUIZ FJG, ENGSTROM O, GODOY A, LEMME MC
NANO COMMUNICATION NETWORKS
HOSSEININEJAD SE, ALARCON E, KOMJANI N, ABADAL S, LEMME MC, BOLIVAR PH, CABELLOSAPARICIO A
NANO LETTERS
WAGNER S, DIEING T, CENTENO A, ZURUTUZA A, SMITH AD, OSTLING M, KATARIA S, LEMME MC
RSC ADVANCES
SMITH AD, ELGAMMAL K, FAN XG, LEMME MC, DELIN A, RASANDER M, BERGQVIST L, SCHRODER S, FISCHER AC, NIKLAUS F, OSTLING M