国家/地区 Germany（2）
关键词 KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY（2）
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机构
作者 MERTIN W（2）

Local Voltage Drop in a Single Functionalized Graphene Sheet Characterized by Kelvin Probe Force Microscopy

NANO LETTERS

YAN L, PUNCKT C, AKSAY IA, MERTIN W, BACHER G

Low Resistive Edge Contacts to CVD-Grown Graphene Using a CMOS Compatible Metal

ANNALEN DER PHYSIK

SHAYGAN M, OTTO M, SAGADE AA, CHAVARIN CA, BACHER G, MERTIN W, NEUMAIER D