国家/地区 Usa（2）
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机构 UNIV TEXAS D.（2）
作者 PARK SY（2）

High Resolution TEM and Electron Diffraction Study of Graphene Layers

MICROSCOPY MICROANALYSIS

SUH YJ, PARK SY, KIM MJ

Conformal Al2O3 dielectric layer deposited by atomic layer deposition for graphene-based nanoelectronics

APPLIED PHYSICS LETTERS

LEE BK, PARK SY, KIM HC, CHO K, VOGEL EM, KIM MJ, WALLACE RM, KIM JY