国家/地区 Usa(2)
关键词 HIGH RESOLUTION(2)
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机构
作者 RACK PD(2)

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

STANFORD MG, ZHANG C, FOWLKES JD, HOFFMAN A, IVANOV IN, RACK PD, TOUR JM

ACS NANO

BECKHAM JL, LI JT, STANFORD MG, CHEN WY, MCHUGH EA, ADVINCULA PA, WYSS KM, CHYAN YE, BOLDMAN WL, RACK PD, TOUR JM