国家/地区 Korea（2）
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY（2）
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出版时间
机构
作者 SEO S（2）

Domain structures of single layer graphene imaged with conductive probe atomic force microscopy

SURFACE INTERFACE ANALYSIS

KWON S, CHUNG HJ, SEO S, PARK JY

Scanning Noise Microscopy on Graphene Devices

ACS NANO

SUNG MG, LEE H, HEO K, BYUN KE, KIM T, SEO DH, SEO S, HONG S