国家/地区 Taiwan（2）
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机构 NATL CENT UNIV（2）
作者 SHIU HW（2）

On the nature of defects created on graphene by scanning probe lithography under ambient conditions

CARBON

CHIEN HM, CHUANG MC, TSAI HC, SHIU HW, CHANG LY, CHEN CH, LEE SW, WHITE JD, WOON WY

Graphene reduction dynamics unveiled

2D MATERIALS

TSAI HC, SHIU HW, CHUANG MC, CHEN CH, SU CY, WHITE JD, WOON WY