国家/地区
关键词
出版物 NANO LETTERS（2）
出版时间 2013（2）
机构
作者 WRACHTRUP J（2）

Single Defect Center Scanning Near-Field Optical Microscopy on Graphene (vol 13, pg 3152, 2013)

NANO LETTERS

TISLER J, OECKINGHAUS T, STOHR RJ, KOLESOV R, REUTER R, REINHARD F, WRACHTRUP J

Single Defect Center Scanning Near-Field Optical Microscopy on Graphene

NANO LETTERS

TISLER J, OECKINGHAUS T, STOHR RJ, KOLESOV R, REUTER R, REINHARD F, WRACHTRUP J