MICROELECTRONICS RELIABILITY

XI K, BI JS, XU YN, LI YD, ZHANG ZG, LIU M

ACS APPLIED MATERIALS INTERFACES

AO LY, WU C, WANG X, XU YN, JIANG K, SHANG LY, LI YW, ZHANG JZ, HU ZG, CHU JH

SCIENCE CHINAINFORMATION SCIENCES

XI K, BI JS, MAJUMDAR S, LI B, LIU J, XU YN, LIU M

MICROELECTRONICS RELIABILITY

XU YN, BI JS, LI YD, XI K, FAN LJ, LIU M, SANDIP M, LUO L

APPLIED PHYSICS EXPRESS

XU YN, BI JS, XI K, LIU M

APPLIED PHYSICS LETTERS

XI K, BI JS, HU Y, LI B, LIU J, XU YN, LIU M

JOURNAL OF POWER SOURCES

XU YN, WANG XF, AN CH, WANG YJ, JIAO LF, YUAN HT

ELECTROCHIMICA ACTA

AN CH, WANG YJ, LI L, QIU FY, XU YN, XU CC, HUANG YN, JIAO F, YUAN HT

SCIENTIFIC REPORTS

ZHAN D, LIU L, XU YN, NI ZH, YAN JX, ZHAO C, SHEN ZX

ACS NANO

XU YN, ZHAN D, LIU L, SUO H, NI ZH, THUONG TN, ZHAO C, SHEN ZX