国家/地区 Korea（4）
关键词 ATOMIC FORCE MICROSCOPY（4）
出版物 ACS NANO（2）
出版时间 2011（2）
机构 SEOUL NATL U.（2）
作者 LEE H（4）

Scanning Noise Microscopy on Graphene Devices

ACS NANO

SUNG MG, LEE H, HEO K, BYUN KE, KIM T, SEO DH, SEO S, HONG S

Ridge Formation and Removal via Annealing in Exfoliated Graphene

JOURNAL OF NANOSCIENCE NANOTECHNOLOGY

HAN SA, CHOI IS, AN HS, LEE H, YONG HD, LEE S, JUNG J, LEE NS, SEO Y

Nanoscale Direct Mapping of Noise Source Activities on Graphene Domains

ACS NANO

LEE H, CHO D, SHEKHAR S, KIM J, PARK J, HONG BH, HONG S

Large changes of graphene conductance as a function of lattice orientation between stacked layers

NANOTECHNOLOGY

LEE H, QI YB, KWON S, SALMERON M, PARK JY