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关键词 HELIUM ION MICROSCOPE（2）
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机构
作者 MURUGANATHAN M（2）

Conductance Tunable Suspended Graphene Nanomesh by Helium Ion Beam Milling

MICROMACHINES

LIU FY, WANG ZW, NAKANAO S, OGAWA S, MORITA Y, SCHMIDT M, HAQUE M, MURUGANATHAN M, MIZUTA H

Precise milling of nano-gap chains in graphene with a focused helium ion beam

NANOTECHNOLOGY

ZHOU YB, MAGUIRE P, JADWISZCZAK J, MURUGANATHAN M, MIZUTA H, ZHANG HZ