| 国家/地区 | Usa（3） |
| 关键词 |
RELIABILITY（5）
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| 出版物 |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS（5）
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| 出版时间 | 2012（2） |
| 机构 | STANFORD UNI.（2） |
| 作者 | WONG HSP（2） |
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LI L, ZHU ZW, YOON A, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
CHEN XY, SEO DH, SEO S, CHUNG H, WONG HSP
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
LIU WJ, SUN XW, FANG Z, WANG ZR, TRAN XA, WANG F, WU L, NG GI, ZHANG JF, WEI J, ZHU HL, YU HY
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
YU TH, LEE EK, BRIGGS B, NAGABHIRAVA B, YU B
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
ROMERO MF, BOSCA A, PEDROS J, MARTINEZ J, FANDAN R, PALACIOS T, CALLE F