| 国家/地区 |
China（6）
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| 关键词 | |
| 出版物 |
APPLIED PHYSICS LETTERS（6）
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| 出版时间 | 2013（2） |
| 机构 | CHINESE ACAD.（3） |
| 作者 |
SHEN Y（6）
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Curvature analysis of single layer graphene on the basis of extreme low-frequency Raman spectroscopy
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, DAI E, LIU X, PAN W, YANG H, XIONG B, ZERULLA D
APPLIED PHYSICS LETTERS
WANG Y, SHEN Y, ZHANG XQ, ZHANG Y, HU J
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, GUAN YH, HU YH, LEI YC, SONG Y, LIN YH, NAN CW
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, ZHANG XQ, WANG Y, ZHOU XJ, HU J, GUO SW, ZHANG Y
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, GUO SW, HU J, ZHANG Y
APPLIED PHYSICS LETTERS
SHEN Y, ZHOU P, SUN QQ, WAN L, LI J, CHEN LY, ZHANG DW, WANG XB